Главная Сайт МБУ "МИБС" Инструкция по поиску в WEB-ИРБИС Видеоуроки по поиску в WEB-ИРБИС
Авторизация
Фамилия
№ читательского билета
 

Базы данных


Статьи- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
 Найдено в других БД:Электронный каталог (1)
Поисковый запрос: (<.>K=атомно-силовая микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.


    Яминский, И. (Д-р физико-мат. наук).
    Кристаллы из белка / И. Яминский // Наука и жизнь. - 2004. - № 1. - С. 58-60. - (Наука) (Вести с переднего края) )
. - ISSN 0028-1263
УДК
ББК 28.072
Рубрики: Биология
   Общая биохимия

Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- белки -- кристаллы -- лизоцим
Аннотация: Изучение механизма роста кристаллов необходимо для решения множества практических задач. Особенно полезными в этом плане оказались кристаллы лизоцима - белка-фермента, который помогает организму защищаться от бактерий. Взглянуть на его кристаллическую решетку исследователям удалось с помощью новейшего метода - атомно-силовой микроскопии.

Прямая ссылка
Найти похожие

2.


    Лозовская, Е. (Кандидат физико-мат. наук).
    Атомно-силовая микроскопия / Е. Лозовская // Наука и жизнь. - 2004. - № 1. - С. 60. - (Подробности для любознательных) )
. - ISSN 0028-1263
УДК
ББК 22.33
Рубрики: Физика
   Электричество и магнетизм

Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- методы исследования -- микроскопы
Аннотация: Атомно-силовая микроскопия позволяет анализировать на атомном уровне структуру самых разных твердых материалов - стекла, керамики, пластиков, металлов, полупроводников. Измерение можно проводить не только в вакууме, но и на воздухе, в атмосфере любого газа и даже в капле жидкости. Этот метод незаменим и для исследования биологических объектов.

Прямая ссылка
Найти похожие

3.


    Толстихина, Алла Леонидовна (канд. физ. -мат. наук).
    Электричество под микроскопом / А. Л. Толстихина [и др. ] // Природа. - 2009. - № 4. - С. 18-27 : 8 рис. - Библиогр.: с. 27 (13 назв. )
УДК
ББК 22.338
Рубрики: Физика
   Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях

Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- кристаллы -- сегнетоэлектрики -- триглицинсульфат -- электростатические изображения
Аннотация: Об использовании атомно-силового микроскопа для исследований физических процессов на поверхности кристаллов и тонких пленок.


Доп.точки доступа:
Сорокина, Кира Львовна (канд. физ. -мат. наук); Белугина, Наталья Васильевна (канд. физ. -мат. наук); Гайнутдинов, Радмир Вильевич (канд. физ. -мат. наук)
Прямая ссылка
Найти похожие

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)